Element Analyses
Intertek levert analyses van elementen in uiteenlopende grondstoffen, halffabrikaten en eindproducten.
Intertek heeft uitgebreide kennis en expertise op het gebied van element analyses. Onze experts beschikken over een breed scala aan apparatuur voor element analyses:
- ICP-OES (Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectroscopy)
- ICP (-MS) (Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry)
- GFAAS (Graphite Atomic Absorption Spectroscopy)
- FAAS (Flame Atomic Absorption Spectroscopy)
- Hydride-systeem voor vluchtige metalen
- Kwikanalyses m.b.v. Cold Vapor
- XRF (X-Ray Fluorescence)
- CHN- elementanalyser
- voorbewerkingstechnieken - verassing / smelt / magnetron destructie etc.
Analyses kunnen uitgevoerd worden binnen een breed concentratiegebied (van procent tot laag ppb niveau) in een groot aantal monstermatrices zoals: grondstoffen, procesvloeistoffen, metalen, katalysatoren, filters, deposities, brandstoffen, afvalstromen, kunststoffen / polymeren, vezels, verpakkingsmaterialen, voedselsimulanten, pharmaceuticals, residuen etc.
Voorbeelden van toepassingen zijn:
- analyse van zware metalen in grondstoffen en eindproducten.
- kwantitatieve scans ten behoeve van identificatie elementen.
- bepaling samenstelling van materialen.
- sporenonderzoek metalen t.b.v. kwaliteitsbepalingen etc.
- analyse van afvalwaters, oppervlakte waters en grondwaters.
- additieven/katalysatorresiduen in kunststoffen
- analyse van siliciumhoudende materialen d.m.v. waterstof fluoride digestion.
- niet destructieve analyses van additieven, vulstoffen en katalysator residuen in polymeren m.b.v. XRF.
- niet destructieve kwalitatieve analyse in een breed scala aan materiaalvormen (o.a. films, plaatjes, poeders, granules, vezels)
- specifieke migratietesten van anorganische elementen in voedselsimulanten
Neem contact met ons op om informatie te ontvangen over hoe wij u van dienst kunnen zijn op het gebied van Element Analyses.